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Attribut:A pour équipement

De Cat OPIDoR

Cette propriété est de type Enregistrement A un équipement, A pour URL.

Affichage de 20 pages utilisant cette propriété.
C
Spectromètres de masse (?)  +, Spectromètres RMN (?)  +, Chromatographie couplée à la spectrométrie de masse (?)  +
Microscopes électroniques en transmission (TEM, FEG-TEM, Cs-FEG-TEM, STEM, HAADF, EELS, EDS) (?)  +, Microscopes électroniques à balayage (FEG-SEM, EDS, EBSD, TKD, S-XES) (?)  +, Microscopes électroniques à balayage dual beam (FEG SEM/Ga-FIB, FEG SEM/plasma-FIB, EDS, EBSD, TOF-SIMS) (?)  +,
AFM, AFM‑IR (?)  +, Microscopes couplés : AFM‑TIRF, AFM‑microscopie confocale (?)  +, Spectroscopies et imageries vibrationnelles : spectromètres FTIR et ATR‑FTIR polarisé, micro-spectromètre IR, micro-spectromètres Raman (?)  +,
Diffractomètres RX (?)  +, Spectromètres Mössbauer (?)  +, Spectromètre de Fluorescence X (?)  +,
MET pour l'imagerie, l'analyse élémentaire semi-quantitative, l'analyse chimique, la diffraction des électrons (?)  +, MEB haute résolution pour l'imagerie, l'analyse élémentaire semi-quantitative et l'EBSD (?)  +, Microsonde de Castaing pour l'analyse élémentaire quantitative et MEB-FIB FIB pour la préparation d'échantillons (?)  +
Spectromètres de masse (?)  +, Systèmes de couplages chromatographiques liquides et gazeux (?)  +
Chromatographie (?)  +, Spectromètres de masse (?)  +, Réacteurs de synthèse (?)  +,
Laser infrarouge CLIO (10-45 MeV) et lasers accordables dans l’infrarouge (?)  +
Microscopes électroniques à balayage et en transmission (?)  +
Microscopes électroniques en transmission (?)  +, Microscopes électroniques à balayage (?)  +, EDX, EELS (?)  +
Spectromètres RMN (https://infranalytics.ibs.fr/p2i/umr5082 nmrspectroscopy.html)  +, Gyrotrons (?)  +, Spectromètres de RPE (?)  +
Microscopes optiques (lumière polarisée, confocale, fluorescence) (?)  +, Microscopes AFM / STM sous UHV et en VT (?)  +, Microscopes électroniques à balayage et à transmission (?)  +,
Chromatographie chirale et détecteurs chiroptiques, Caractérisation par dichroïsme circulaire et polarimétrie à multi longueurs d'onde A pour technique=Synthèse chimique et purification, Plateformes multi-techniques (?)  +
D
Synthèse de couches minces multi-matériaux (?)  +, Microscope optique, électronique (MEB), ALD, PLD (?)  +, Etude des propriétés physiques des matériaux (magnétométrie Kerr in situ, cathodoluminescence) (?)  +,
E
Accélérateur d’électrons (impulsions picosecondes) (?)  +
F
Diffractomètres D8 (?)  +, Banc SAXS (?)  +
Microscopie électronique à balayage à effet de champ (SEM-FEG) (?)  +, Spectromètre de rayon X à dispersion d’énergie (EDS) (?)  +
Microscopies électroniques (MET) (?)  +
Spectromètres RMN (?)  +
Spectromètres XPS (?)  +