Attribut:A un équipement
Apparence
Cette propriété est de type Texte.
C
Microscopes électroniques en transmission (TEM, FEG-TEM, Cs-FEG-TEM, STEM, HAADF, EELS, EDS) +
Microscopes électroniques à balayage dual beam (FEG SEM/Ga-FIB, FEG SEM/plasma-FIB, EDS, EBSD, TOF-SIMS) +
AFM, AFM‑IR +
Microscopes couplés : AFM‑TIRF, AFM‑microscopie confocale +
Plasmon Waveguide Resonance, thermophorèse (MST), ITC, spectroélectrochimie +
Spectroscopies et imageries vibrationnelles : spectromètres FTIR et ATR‑FTIR polarisé, micro-spectromètre IR, micro-spectromètres Raman +
Diffractomètres RX +
Spectromètre de Fluorescence X +
Spectromètres Mössbauer +
Tomographe +
MET pour l'imagerie, l'analyse élémentaire semi-quantitative, l'analyse chimique, la diffraction des électrons +
Microsonde de Castaing pour l'analyse élémentaire quantitative et MEB-FIB FIB pour la préparation d'échantillons +