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Rechercher par propriété

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Rechercher par propriété

Une liste de toutes les pages qui ont la propriété « A un équipement » avec la valeur « MEB couplé à un faisceau d'ions focalisés ». Puisqu’il n’y a que quelques résultats, les valeurs proches sont également affichées.

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Liste de résultats

  • MACLE-CVL  + (MEB couplé à un faisceau d'ions focalisés)
  • CC3M  + (MEB haute résolution pour l'imagerie, l'analyse élémentaire semi-quantitative et l'EBSD)
  • MACLE-CVL  + (MET)
  • CC3M  + (MET pour l'imagerie, l'analyse élémentaire semi-quantitative, l'analyse chimique, la diffraction des électrons)
  • MINaMec  + (Machines de traction dynamique et instrumentée)
  • PLASSMAT  + (Magnétomètre)
  • MagCryo  + (Magnétomètres)
  • PICMMO  + (Magnétomètres)
  • MINaMec  + (Micro Visio Scratch)
  • Fédération de chimie Le Bel : Plateforme  + (Microanalyseur CHN)
  • ScanMAT  + (Microscope AFM / STM sous UHV et en VT)
  • VISIO  + (Microscope RAMAN)
  • MO2VING  + (Microscope confocal et vidéo)
  • MO2VING  + (Microscope de fluorescence)
  • LCPME : SMI  + (Microscope infrarouge)
  • PRATIM  + (Microscope inversé confocal)
  • DAUM  + (Microscope optique, électronique (MEB), ALD, PLD)
  • PLASSMAT  + (Microscope optique, électronique (MEB-MET))
  • ScanMAT  + (Microscope à balayage et à transmission)
  • PLASSMAT  + (Microscope à effet tunnel)
  • PLASSMAT  + (Microscope à force atomique)
  • LCPME : SMI  + (Microscope électronique à balayage)
  • PICMMO  + (Microscopes AFM / STM sous UHV et en VT)
  • CRPP : PCMM  + (Microscopes AFM / STM sous UHV et en VT)
  • IPGG : Plateforme technologique  + (Microscopes confocal et électronique à balayage)
  • CBMN : VibrAFM  + (Microscopes couplés : AFM‑TIRF, AFM‑microscopie confocale)