Attribut:A un équipement
Cette propriété est de type Texte.
I
Verrerie pour synthèse en atmosphère contrôlée/organométallique, réacteurs double enveloppe et sous pression +
Appareils de chromatographies : analytique et préparative +
Spectromètre de masse +
Cartographie automatique des orientations (ACOM) +
Diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD) +
Microscopie optique (MO) et électroniques (MEB – MET - EPMA) +
Spectroscopie de perte en énergie des électrons (EELS) +
Spectroscopie en dispersion d'énergie des rayons X (EDS) et en longueur d’onde (WDS) +
SPS 515S de Fuji Electronic Industrial +
U-FAST GC-100 avec Boîte à gants de GeniCore +
Réflectance Totale Atténuée +
Spectromètre Infrarouge à transformée de Fourier +
Spectromètre RAMAN +
Spectromètre de photoélectrons X (XPS) +
Spectromètres RMN +
Spectromètres d’émission atomique par plasma à couplage inductif (ICP-OES) +
Spectrophotomètres optiques UV-visible +
Appareils de chromatographie +
Spectromètre de masse +
Spectromètres RMN +