Attribut:A un équipement

Cette propriété est de type Texte.

Utilisation208

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Filtre<p>Le <a target="_blank" rel="nofollow noreferrer noopener" class="external text" href="https://www.semantic-mediawiki.org/wiki/Help:Property_page/Filter">filtre de recherche</a> permet l’inclusion d’<a target="_blank" rel="nofollow noreferrer noopener" class="external text" href="https://www.semantic-mediawiki.org/wiki/Help:Query_expressions">expressions de requête</a> telles que <code>~</code> ou <code>!</code>. Le <a target="_blank" rel="nofollow noreferrer noopener" class="external text" href="https://www.semantic-mediawiki.org/wiki/Query_engine">moteur de requête</a> sélectionné peut aussi prendre en charge une correspondance insensible à la casse ou d’autres expressions courtes telles que :</p><ul><li><code>in:</code> le résultat doit contenir le terme, par ex. « <code>in:Foo</code> »</li><li><code>not:</code> le résultat ne doit pas contenir le terme, par ex. « <code>not:Bar</code> »</li></ul>

Affichage de 20 pages utilisant cette propriété.

C

CCSM +

Systèmes de couplages chromatographiques liquides et gazeux +

CHEM‑Symbiose +

Chromatographie +

CHEM‑Symbiose +

Evaporateurs +

CHEM‑Symbiose +

Réacteurs de synthèse +

CHEM‑Symbiose +

Spectromètres de masse +

CLIO +

Laser infrarouge CLIO (10-45 MeV) et lasers accordables dans l’infrarouge +

CP2M +

Microscopes électroniques à balayage et en transmission +

CRISMAT - PAMEC +

EDX, EELS +

CRISMAT - PAMEC +

Microscopes électroniques en transmission +

CRISMAT - PAMEC +

Microscopes électroniques à balayage +

CRMN de Lyon +

Gyrotrons +

CRMN de Lyon +

Spectromètres RMN +

CRMN de Lyon +

Spectromètres de RPE +

CRPP : PCMM +

Microscopes AFM / STM sous UHV et en VT +

CRPP : PCMM +

Microscopes optiques (lumière polarisée, confocale, fluorescence) +

CRPP : PCMM +

Microscopes électroniques à balayage et à transmission +

CRPP : PCMM +

Rayons X +

Chiropole +

Chromatographie chirale et détecteurs chiroptiques, Caractérisation par dichroïsme circulaire et polarimétrie à multi longueurs d'onde A pour technique=Synthèse chimique et purification, Plateformes multi-techniques +

D

DAUM +

Analyse multi-techniques de surfaces des matériaux (diffraction électronique LEED - RHEED, spectroscopie XPS - Auger - UPS - ARPES, microscopie AFM - STM – MEB) +

DAUM +

Etude des propriétés physiques des matériaux (magnétométrie Kerr in situ, cathodoluminescence) +