Attribut:A un équipement
Apparence
Cette propriété est de type Texte.
I
SIFT-MS +
Spectromètres de masse haute résolution (TOF, orbitrap, FTICR) +
Spectromètres de masse à plasma inductif +
L
Microscope infrarouge +
Microscope électronique à balayage +
Microscopes à force atomique (AFM) +
Microscopes électrochimiques à balayage +
Spectromètre XPS et UPS +
Spectromètres Mössbauer très basse température (5 K) +