« DAUM » : différence entre les versions

DAUM
Type de service	Plateforme d'acquisition
Statut	En production
Nom développé	Centre de Compétences Dépôts et Analyses sous Ultravide de nanoMatériaux
URL	https://pluginlabs.univ-lorraine.fr/fiche/centre-de-competences-depot-et-analyse-sous-ultravide-de-nanomateriaux/
Contact	danielle.pierre@univ-lorraine.fr
Localisation	Nancy
Structure d'appartenance	IJL
Tutelles	CNRS, Université de Lorraine

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Dernière version du 4 mai 2026 à 11:12

La plateforme DAUM de l’Institut Jean Lamour est spécialisée dans la croissance de multi-matériaux sous forme de films minces et dans l’analyse in situ de ces matériaux à l’échelle atomique. Elle permet aussi l’analyse et la caractérisation de surfaces et de nanomatériaux.

Elle dispose de 28 enceintes ultravides interconnectées par un tunnel de transfert sous ultravide de 70 mètres de long, dont 30 mètres sont dédiés au transfert technologique. Elle permet l’élaboration et la combinaison de divers matériaux en couches minces (métaux, semi-conducteurs, oxydes, etc.). Ces matériaux peuvent être caractérisés à chaque étape de leur fabrication par différentes techniques (chimique, structurale ou physique), garantissant ainsi une étude approfondie tout en restant sous ultravide. Les compétences techniques et scientifiques de DAUM s’appliquent à divers domaines tels que l’énergie, l’environnement, le numérique et la santé, et peuvent répondre à des problématiques industrielles en R&D.

Elle est labellisée par l'Institut national de chimie (CNRS Chimie).

Domaines scientifiques :Sciences & Technologies

PE3 Physique de la matière condensée; PE5 Chimie de synthèse et matériaux; PE8 Ingénierie des produits et des procédés

Thématique et/ou mots clés :

analyses
ultravide
surfaces
couches minces
nanomatériaux
dépôt
caractérisation

Type de données :

Périmètre de communauté : ESR, national

Usagers et bénéficiaires :

Conditions d'usage :

Conditions tarifaires :

Certification/Label :INFRA+ (https://www.univ-lorraine.fr/lue/wp-content/uploads/sites/34/2025/09/carto star lue 20250901.pdf)

Conditions générales d'utilisation :

DAUM est en lien avec les services et structures

CNRS Chimie

Services proposés par la structure d'appartenance

Structure	Services proposés
IJL	CC3M DAUM MagCryo CC X-Gamma

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 |StatutService=En production
 |NomDéveloppé=Centre de Compétences Dépôts et Analyses sous Ultravide de nanoMatériaux
-|UrlService=https://ijl.univ-lorraine.fr/centres-de-competences/centre-de-competences-depots-et-analyses-sous-ultravide-de-nanomateriaux-cc
+|UrlService=https://pluginlabs.univ-lorraine.fr/fiche/centre-de-competences-depot-et-analyse-sous-ultravide-de-nanomateriaux/
 |ContactMel=danielle.pierre@univ-lorraine.fr
 |Localisation=Nancy
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 |SousDisciplineSciences&Technologies=PE3 Physique de la matière condensée; PE5 Chimie de synthèse et matériaux; PE8 Ingénierie des produits et des procédés
 |Thematique=analyses, ultravide, surfaces, couches minces, nanomatériaux, dépôt, caractérisation
-|PerimetreCommunaute=ESR
+|PerimetreCommunaute=ESR, national
 |Certification=INFRA+;https://www.univ-lorraine.fr/lue/wp-content/uploads/sites/34/2025/09/carto_star_lue_20250901.pdf
 |Relation=CNRS Chimie
 }}
+<!-- Propriété cachée -->
+[[A pour équipement::Synthèse de couches minces multi-matériaux| ]]
+[[A pour équipement::Analyse multi-techniques de surfaces des matériaux (diffraction électronique LEED - RHEED, spectroscopie XPS - Auger - UPS - ARPES, microscopie AFM - STM – MEB)| ]]
+[[A pour équipement::Microscope optique, électronique (MEB), ALD, PLD| ]]
+[[A pour équipement::Etude des propriétés physiques des matériaux (magnétométrie Kerr in situ, cathodoluminescence)| ]]
+[[A pour technique::Magnétisme, calorimétrie et microfluidique| ]]
+[[A pour technique::Synthèse chimique et purification| ]]
+[[A pour technique::Imagerie par microscopie optique et électronique| ]]
 [[Catégorie:Plateformes labellisées CNRS Chimie]]
+[[Catégorie:Synthèse chimique et purification]]
+[[Catégorie:Imagerie par microscopie optique et électronique]]
+[[Catégorie:Magnétisme, calorimétrie et microfluidique]]