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FCMat : MEB et EDS
Type de service	Plateforme d'acquisition
Statut	En production
Nom développé	Plateforme de Microscopie Electronique à Balayage et spectrométrie EDS
Autres noms	MEB et EDS
URL	https://sitesweb-tmp511.dsi.sorbonne-universite.fr/les-plateformes-techniques/microscopie-electronique-balayage-et-spectrometrie-eds
Contact	david.montero@sorbonne-universite.fr
Localisation	Paris
Structure d'appartenance	FCMat
Tutelles	CNRS, Sorbonne Université, ESPCI

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Dernière version du 14 avril 2026 à 11:48

La plateforme MEB et EDS de la Fédération de Chimie et Matériaux de Paris-Centre, en accès ouvert avec facturation, est spécialisée dans la caractérisation de matériaux par microscopie électronique à balayage (MEB) et la spectroscopie en dispersion d'énergie (EDS).

Ses équipements permettent la caractérisation de la morphologie de la surface jusqu’à l’échelle du nanomètre sur divers matériaux ainsi que leur analyse élémentaire avec une limite de détection de 1% wt dans un volume proche de la surface. Elle est dotée d’une longue expérience dans la caractérisation des nanomatériaux inorganiques, des matériaux hybrides, des matériaux à destination de la catalyse, du stockage de l’énergie, du photovoltaïque, de protection contre la corrosion, de l’électrochimie.

Elle est labellisée par l'Institut national de chimie (CNRS Chimie).

Domaines scientifiques :Sciences & Technologies

PE3 Physique de la matière condensée; PE4 Chimie physique et analytique; PE5 Chimie de synthèse et matériaux; PE11 Génie des matériaux

Thématique et/ou mots clés :

nanomatériaux
catalyseurs
matériaux hybrides et polymères

Type de données :Données instrumentales, Images de microscopies

Périmètre de communauté : ESR, privé, national

Usagers et bénéficiaires :Chercheurs, Industriels

Conditions d'usage :

Conditions tarifaires : Payant

Certification/Label :

Conditions générales d'utilisation :

Services proposés par la structure d'appartenance

Structure	Services proposés
FCMat	FCMat : MEB et EDS FCMat : MET FCMat : RMN FCMat : DRX FCMat : XPS

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 Ses équipements permettent la caractérisation de la morphologie de la surface jusqu’à l’échelle du '''nanomètre''' sur divers matériaux ainsi que leur analyse élémentaire avec une limite de détection de 1% wt dans un volume proche de la surface. Elle est dotée d’une longue expérience dans la caractérisation des nanomatériaux inorganiques, des matériaux hybrides, des matériaux à destination de la catalyse, du stockage de l’énergie, du photovoltaïque, de protection contre la corrosion, de l’électrochimie.
 Elle est [https://www.inc.cnrs.fr/fr/plateformes-labellisees labellisée par l'Institut national de chimie] (CNRS Chimie).
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 |Thematique=nanomatériaux, catalyseurs, matériaux hybrides et polymères
 |TypeDonnee=Données instrumentales, Images de microscopies
-|Communaute=Communauté de l'ESR et du secteur privé
+|PerimetreCommunaute=ESR, privé, national
 |Beneficiaire=Chercheurs, Industriels
 |ModeleEconomique=Payant
 }}
+<!-- Propriété cachée -->
+[[A pour équipement::Microscopie électronique à balayage à effet de champ (SEM-FEG)| ]]
+[[A pour équipement::Spectromètre de rayon X à dispersion d’énergie (EDS)| ]]
+[[A pour technique::Imagerie par microscopie optique et électronique| ]]
+[[A pour technique::Spectroscopie analytique| ]]
+[[A pour technique::Rayons X| ]]
 [[Catégorie:Plateformes labellisées CNRS Chimie]]
+[[Catégorie:Imagerie par microscopie optique et électronique]]
+[[Catégorie:Spectroscopie analytique]]
+[[Catégorie:Rayons X]]