« CRISMAT : Imagerie » : différence entre les versions
(Page créée avec « {{Infobox Service |Logo=CHRISMAT POLETES.jpg |NomService=CRISMAT : Imagerie |TypeService=Plateforme d'acquisition |StatutService=En production |UrlService=https://crismat.cnrs.fr/imagerie/ |ContactMel=https://crismat.cnrs.fr/imagerie/ |Localisation=Caen |StructureAppartenance=CRISMAT, IRMA, METSA |Tutelle=CNRS, ENSICAEN, Université de Caen Normandie |PhaseCycleVie=Collecte }} {{Coordonnées GPS |CoordonneeGeographique=49.21406, -0.36855 }} {{Service |Description... ») |
Aucun résumé des modifications |
||
Ligne 17 : | Ligne 17 : | ||
|Description=Au '''CRISMAT''' ('''Laboratoire de Cristallographie et Sciences des Matériaux'''), les thématiques de recherche abordées au sein du plateau de microscopie concernent la recherche fondamentale et à vocation technologique à travers des contrats industriels sur '''les nouveaux matériaux''' en particulier sur '''la compréhension des relations structures/propriétés'''. | |Description=Au '''CRISMAT''' ('''Laboratoire de Cristallographie et Sciences des Matériaux'''), les thématiques de recherche abordées au sein du plateau de microscopie concernent la recherche fondamentale et à vocation technologique à travers des contrats industriels sur '''les nouveaux matériaux''' en particulier sur '''la compréhension des relations structures/propriétés'''. | ||
Les '''microscopes''' TEM ('''Microscopie Electronique en Transmission'''), '''MEB''' ('''Microscopie Electronique à Balayage''') et '''AFM''' ('''Microscopie à Force Atomique''') permettent de réaliser les études structurales par diffraction électronique et différents types d’imagerie multi échelle du macro (μm) au nano (nm). Il est également possible d’utiliser des outils de simulations pour l’interprétation des images observées (structures, défauts, contraintes…). Enfin une des spécificités du laboratoire est d’avoir une large gamme de portes échantillons permettant de faire de la microscopie électronique in-situ en température de la température de l’hélium liquide à plus de 1000°C. | Les '''microscopes''' '''TEM''' ('''Microscopie Electronique en Transmission'''), '''MEB''' ('''Microscopie Electronique à Balayage''') et '''AFM''' ('''Microscopie à Force Atomique''') permettent de réaliser '''les études structurales''' par diffraction électronique et différents types d’imagerie multi échelle du macro (μm) au nano (nm). Il est également possible d’utiliser des outils de simulations pour l’interprétation des images observées (structures, défauts, contraintes…). Enfin une des spécificités du laboratoire est d’avoir une large gamme de portes échantillons permettant de faire de la microscopie électronique in-situ en température de la température de l’hélium liquide à plus de 1000°C. | ||
La plateforme TEM (microscopie électronique en transmission) du CRISMAT participe au réseau METSA (Microscopie électronique et sonde atomique). | La plateforme TEM (microscopie électronique en transmission) du CRISMAT participe au réseau METSA (Microscopie électronique et sonde atomique). |
Dernière version du 27 mai 2024 à 13:58
Type de service | Plateforme d'acquisition |
---|---|
Statut | En production |
URL | https://crismat.cnrs.fr/imagerie/ |
Contact | https://crismat.cnrs.fr/imagerie/ |
Localisation | Caen |
Structure d'appartenance | CRISMAT, IRMA, METSA |
Tutelles | CNRS, ENSICAEN, Université de Caen Normandie |
Cycle de vie des données
Ce service intervient au cours des stades du cycle de vie suivants :
Les microscopes TEM (Microscopie Electronique en Transmission), MEB (Microscopie Electronique à Balayage) et AFM (Microscopie à Force Atomique) permettent de réaliser les études structurales par diffraction électronique et différents types d’imagerie multi échelle du macro (μm) au nano (nm). Il est également possible d’utiliser des outils de simulations pour l’interprétation des images observées (structures, défauts, contraintes…). Enfin une des spécificités du laboratoire est d’avoir une large gamme de portes échantillons permettant de faire de la microscopie électronique in-situ en température de la température de l’hélium liquide à plus de 1000°C.
La plateforme TEM (microscopie électronique en transmission) du CRISMAT participe au réseau METSA (Microscopie électronique et sonde atomique).
Domaines scientifiques :Sciences & Technologies
PE4 Chimie physique et analytique
Thématique et/ou mots clés :
- Microscopie électronique en transmission
- Microscopie électronique à balayage
- Microscopie à force atomique
- Microscopie électronique in-situ
Type de données :Données expérimentales, Données instrumentales
Communauté d'utilisateurs : Communautés scientifiques du CRISMAT et des laboratoires partenaires, laboratoires pivés Usagers et bénéficiaires :Chercheurs, Enseignants-Chercheurs, Doctorants, Ingénieurs, Industriels
Conditions d'usage : Les instruments sont ouverts aux chercheurs académiques et industriels. Les microscopes électroniques en transmission sont ouverts aux utilisateurs par le biais du réseau METSA qui lance deux appels à projets par an (octobre et mai) sur www.metsa.fr.
Conditions tarifaires :
Certification/Label :
Conditions générales d'utilisation :