Rechercher par propriété

Cette page fournit une simple interface de navigation pour trouver des entités décrites par une propriété et une valeur nommée. D’autres interfaces de recherche disponibles comprennent la page recherche de propriété, et le constructeur de requêtes « ask ».

Liste de résultats

• IS2M  + (Essais mécaniques, thermiques et d’absorption)
• DAUM  + (Etude des propriétés physiques des matériaux (magnétométrie Kerr in situ, cathodoluminescence))
• CHEM‑Symbiose  + (Evaporateurs)
• Fédération de chimie Le Bel : Plateforme  + (Fluorimètre à large bande)
• CRMN de Lyon  + (Gyrotrons)
• SynBioN  + (HPLC analytiques et préparatives. Détection UV / MS, colonnes chirales analytiques et préparatives)
• PICMO  + (Histologie (cryostat, microtome, vibratome))
• CLIO  + (Laser infrarouge CLIO (10-45 MeV) et lasers accordables dans l’infrarouge)
• IMEC : PTICM  + (Lasers et Spectroscopes d’absorption transitoires électroniques et vibrationnelles, de photoluminescence et de diffusion Raman transitoires)
• MACLE-CVL  + (MEB Microsonde)
• MACLE-CVL  + (MEB couplé à un faisceau d'ions focalisés)
• CC3M  + (MEB haute résolution pour l'imagerie, l'analyse élémentaire semi-quantitative et l'EBSD)
• MACLE-CVL  + (MET)
• CC3M  + (MET pour l'imagerie, l'analyse élémentaire semi-quantitative, l'analyse chimique, la diffraction des électrons)
• MINaMec  + (Machines de traction dynamique et instrumentée)
• PLASSMAT  + (Magnétomètre)
• MagCryo  + (Magnétomètres)
• PICMMO  + (Magnétomètres)
• MINaMec  + (Micro Visio Scratch)
• Fédération de chimie Le Bel : Plateforme  + (Microanalyseur CHN)
• ScanMAT  + (Microscope AFM / STM sous UHV et en VT)
• VISIO  + (Microscope RAMAN)
• MO2VING  + (Microscope confocal et vidéo)
• MO2VING  + (Microscope de fluorescence)
• LCPME : SMI  + (Microscope infrarouge)

• PRATIM  + (Microscope inversé confocal)

• DAUM  + (Microscope optique, électronique (MEB), ALD, PLD)
• PLASSMAT  + (Microscope optique, électronique (MEB-MET))
• ScanMAT  + (Microscope à balayage et à transmission)
• PLASSMAT  + (Microscope à effet tunnel)
• PLASSMAT  + (Microscope à force atomique)
• LCPME : SMI  + (Microscope électronique à balayage)
• PICMMO  + (Microscopes AFM / STM sous UHV et en VT)
• CRPP : PCMM  + (Microscopes AFM / STM sous UHV et en VT)
• IPGG : Plateforme technologique  + (Microscopes confocal et électronique à balayage)
• CBMN : VibrAFM  + (Microscopes couplés : AFM‑TIRF, AFM‑microscopie confocale)
• CRPP : PCMM  + (Microscopes optiques (lumière polarisée, confocale, fluorescence))
• LCPME : SMI  + (Microscopes à force atomique (AFM))
• LCPME : SMI  + (Microscopes électrochimiques à balayage)
• PAC Chimie Balard  + (Microscopes électroniques (MEB-MET))
• CASTAING  + (Microscopes électroniques en transmission (TEM, FEG-TEM, Cs-FEG-TEM, STEM, HAADF, EELS, EDS))
• CRISMAT - PAMEC  + (Microscopes électroniques en transmission)
• CRISMAT - PAMEC  + (Microscopes électroniques à balayage)
• CASTAING  + (Microscopes électroniques à balayage (FEG-SEM, EDS, EBSD, TKD, S-XES))
• CASTAING  + (Microscopes électroniques à balayage dual beam (FEG SEM/Ga-FIB, FEG SEM/plasma-FIB, EDS, EBSD, TOF-SIMS))
• CP2M  + (Microscopes électroniques à balayage et en transmission)
• PICMMO  + (Microscopes électroniques à balayage et à transmission)
• IMEC : PCA  + (Microscopes électroniques à balayage et à transmission)
• CRPP : PCMM  + (Microscopes électroniques à balayage et à transmission)
• IS2M  + (Microscopes électroniques à balayage et à transmission)
• PICMO  + (Microscopie confocale)