« ICMPE : MIC » : différence entre les versions

ICMPE : MIC
Type de service	Plateforme d'acquisition
Statut	En production
Nom développé	Plateforme de microscopie
URL	https://www.icmpe.cnrs.fr/plateformes/microscopie-mic/
Contact	remy.pires-brazuna@cnrs.fr
Localisation	Thiais
Structure d'appartenance	ICMPE
Tutelles	CNRS, Université Paris-Est Créteil

← Modification précédente

Dernière version du 22 juin 2026 à 14:08

La plateforme MIC de l’Institut de chimie et des matériaux Paris-Est offre une gamme étendue de techniques pour la caractérisation avancée des matériaux.

Les équipements disponibles incluent la microscopie optique (MO), la microscopie électronique à balayage (MEB), la microscopie électronique en transmission (MET) et la microsonde électronique de Castaing (EPMA). Les activités comprennent des techniques spécialisées comme la spectroscopie de perte en énergie des électrons (EELS), la spectroscopie en dispersion d'énergie des rayons X (EDS), la diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD), et la tomographie électronique pour obtenir des images 3D détaillées des échantillons. Ces outils permettent une analyse approfondie de la structure, de la composition et des propriétés des matériaux à différentes échelles. Ces capacités s’appliquent dans les domaines de l’énergie, le transport, l’environnement, la santé, et le patrimoine.

Elle est labellisée par l'Institut national de chimie (CNRS Chimie).

Domaines scientifiques :Sciences & Technologies

PE3 Physique de la matière condensée; PE4 Chimie physique et analytique; PE5 Chimie de synthèse et matériaux; PE8 Ingénierie des produits et des procédés

Thématique et/ou mots clés :

microscopie électronique
caractérisation avancée des matériaux

Type de données :Données instrumentales, Images de microscopies

Périmètre de communauté : ESR, privé, national

Usagers et bénéficiaires :

Conditions d'usage :

Conditions tarifaires :

Certification/Label :

Conditions générales d'utilisation :

ICMPE : MIC est en lien avec les services et structures

CNRS Chimie

Services proposés par la structure d'appartenance

Structure	Services proposés
ICMPE	ICMPE : MIC ICMPE : CAP ICMPE : Spectroscopies ICMPE : SPS

@@ Ligne 33 : / Ligne 33 : @@
 <!-- Propriété cachée -->
-[[A pour équipement::Microscopie optique (MO) et électroniques (MEB – MET - EPMA)| ]]
-[[A pour équipement::Spectroscopie de perte en énergie des électrons (EELS)| ]]
-[[A pour équipement::Spectroscopie en dispersion d'énergie des rayons X (EDS) et en longueur d’onde (WDS)| ]]
-[[A pour équipement::Diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD)| ]]
-[[A pour équipement::Cartographie automatique des orientations (ACOM)| ]]
 [[A pour technique::Spectroscopie analytique| ]]
 [[A pour technique::Synthèse chimique et purification| ]]
 [[A pour technique::Imagerie par microscopie optique et électronique| ]]
+{{#set:
+ |A pour équipement=Microscopes optiques;
+ |A un équipement=Microscopes optiques
+ |A pour URL équipement=
+}}
+{{#set:
+ |A pour équipement=Microscopes Electroniques en Transmission;https://platform.infranalytics.fr/p2i/umr7182_transmissionelectronmicroscopy.html
+ |A un équipement=Microscopes Electroniques en Transmission
+ |A pour URL équipement=https://platform.infranalytics.fr/p2i/umr7182_transmissionelectronmicroscopy.html
+}}
+{{#set:
+ |A pour équipement=Microscopes Electroniques à Balayage;https://platform.infranalytics.fr/p2i/umr7182_scanningelectronmicroscopy.html
+ |A un équipement=Microscopes Electroniques à Balayage
+ |A pour URL équipement=https://platform.infranalytics.fr/p2i/umr7182_scanningelectronmicroscopy.html
+}}
+{{#set:
+ |A pour équipement=Microsondes électroniques;
+ |A un équipement=Microsondes électroniques
+ |A pour URL équipement=
+}}
 [[Catégorie:Plateformes labellisées CNRS Chimie]]