« MicroMat » : différence entre les versions
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La plateforme est reconnue nationalement pour son expertise en '''analyse des données d’orientations cristallographiques'''. En couplant les analyses par tomographie à rayons X et microscopie double faisceau, elle a développé une compétence unique au sein de l’université en analyse 3D multi-échelle des matériaux. La plateforme développe aussi de '''nouvelles techniques d’analyse des microstructures (hardware et/ou software).''' | La plateforme est reconnue nationalement pour son expertise en '''analyse des données d’orientations cristallographiques'''. En couplant les analyses par '''tomographie à rayons X et microscopie double faisceau''', elle a développé une compétence unique au sein de l’université en '''analyse 3D multi-échelle des matériaux'''. La plateforme développe aussi de '''nouvelles techniques d’analyse des microstructures (hardware et/ou software).''' | ||
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|Thematique=Microscopie électronique, Indentation, Traitement thermique, Diffraction, Tomographie, FIB | |Thematique=Microscopie électronique, Indentation, Traitement thermique, Diffraction, Tomographie, FIB |
Version du 23 février 2024 à 14:23
Type de service | Plateforme d'acquisition |
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Statut | En production |
URL | https://pluginlabs.univ-lorraine.fr/fiche/plateforme-microstructures-des-materiaux/ |
Contact | el-mostafa.daya@univ-lorraine.fr |
Localisation | Metz |
Structure d'appartenance | LEM3 |
Tutelles | CNRS, Université de Lorraine, Arts et Métiers |
Cycle de vie des données
Ce service intervient au cours des stades du cycle de vie suivants :
Elle dispose de quatre plateaux techniques permettant la caractérisation de la microstructure des matériaux notamment:
- Un plateau de microscopie (MEB et MET) qui dispose de compétence en analyse chimique (EDS) et d'orientation (EBSD et EBSD 3D couplé avec un FIB).
- Un plateau de nanoindentation qui permet la caractérisation mécanique des matériaux en surface.
- Un plateau d'analyse Thermo-physique (DSC et Dilatométrie) ainsi qu'un four de traitements thermiques sous vide primaire.
- Un plateau d'analyse non destructive en diffraction à rayons X et en tomographie à rayons X.
La complémentarité des équipements disponibles sur la plateforme favorise une caractérisation multi-échelle, allant de quelques centimètres à quelques nanomètres.
La plateforme est reconnue nationalement pour son expertise en analyse des données d’orientations cristallographiques. En couplant les analyses par tomographie à rayons X et microscopie double faisceau, elle a développé une compétence unique au sein de l’université en analyse 3D multi-échelle des matériaux. La plateforme développe aussi de nouvelles techniques d’analyse des microstructures (hardware et/ou software).
Domaines scientifiques :Sciences & Technologies
Thématique et/ou mots clés :
- Microscopie électronique
- Indentation
- Traitement thermique
- Diffraction
- Tomographie
- FIB
Type de données :Données d’orientations cristallographiques, Logiciel
Communauté d'utilisateurs : Communauté du LEM3 ainsi que toute la communauté scientifique et industrielle Usagers et bénéficiaires :Chercheurs, étudiants
Conditions d'usage :
Conditions tarifaires :
Certification/Label :StaR-LUE (https://pluginlabs.univ-lorraine.fr/fiche/plateforme-microstructures-des-materiaux/)
Conditions générales d'utilisation :
Structure | Services proposés |
---|---|
LEM3 | MicroMat |