« MicroMat » : différence entre les versions
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Elle dispose de quatre plateaux techniques permettant la caractérisation de la microstructure des matériaux notamment: | Elle dispose de quatre plateaux techniques permettant la caractérisation de la microstructure des matériaux notamment: | ||
* Un '''plateau de microscopie''' ( | * Un '''plateau de microscopie''' (Microscopie électronique à balayage et Microscopie électronique en transmission) qui dispose de compétence en analyse chimique (EDS) et d'orientation (EBSD et EBSD 3D couplé avec un FIB). | ||
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* Un '''plateau d'analyse Thermo-physique''' (DSC et Dilatométrie) ainsi qu'un four de traitements thermiques sous vide primaire. | * Un '''plateau d'analyse Thermo-physique''' (DSC et Dilatométrie) ainsi qu'un four de traitements thermiques sous vide primaire. | ||
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|TypeDonnee=Données d’orientations cristallographiques | |TypeDonnee=Données d’orientations cristallographiques | ||
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Dernière version du 4 mars 2025 à 14:55
| Type de service | Plateforme d'acquisition |
|---|---|
| Statut | En production |
| Autres noms | |
| URL | https://pluginlabs.univ-lorraine.fr/fiche/plateforme-microstructures-des-materiaux/ |
| Contact | hamid.zahrouni@univ-lorraine.fr, olivier.perroud@univ-lorraine.fr |
| Localisation | Metz |
| Structure d'appartenance | LEM3 |
| Tutelles | CNRS, Université de Lorraine, Arts et Métiers |
Cycle de vie des données
Ce service intervient au cours des stades du cycle de vie suivants :
Elle dispose de quatre plateaux techniques permettant la caractérisation de la microstructure des matériaux notamment:
- Un plateau de microscopie (Microscopie électronique à balayage et Microscopie électronique en transmission) qui dispose de compétence en analyse chimique (EDS) et d'orientation (EBSD et EBSD 3D couplé avec un FIB).
- Un plateau de nanoindentation qui permet la caractérisation mécanique des matériaux en surface.
- Un plateau d'analyse Thermo-physique (DSC et Dilatométrie) ainsi qu'un four de traitements thermiques sous vide primaire.
- Un plateau d'analyse non destructive en diffraction à rayons X et en tomographie à rayons X.
La complémentarité des équipements disponibles sur la plateforme favorise une caractérisation multi-échelle, allant de quelques centimètres à quelques nanomètres.
La plateforme est reconnue nationalement pour son expertise en analyse des données d’orientations cristallographiques. En couplant les analyses par tomographie à rayons X et microscopie double faisceau, elle a développé une compétence unique au sein de l’université en analyse 3D multi-échelle des matériaux. La plateforme développe aussi de nouvelles techniques d’analyse des microstructures (hardware et/ou software).
Domaines scientifiques :Sciences & Technologies
PE4 Chimie physique et analytique
Thématique et/ou mots clés :
- Microscopie électronique
- Indentation
- Traitement thermique
- Diffraction
- Tomographie
- FIB
Type de données :Données d’orientations cristallographiques
Communauté d'utilisateurs : Communauté du LEM3 ainsi que toute la communauté scientifique et industrielle Usagers et bénéficiaires :
Conditions d'usage :
Conditions tarifaires :
Certification/Label :INFRA+ (https://www.univ-lorraine.fr/lue/wp-content/uploads/sites/34/2025/01/carto star lue 20250113.pdf)
Conditions générales d'utilisation :
| Structure | Services proposés |
|---|---|
| LEM3 | MicroMat |