« IMEC : PCA » : différence entre les versions

PCA
Type de service	Plateforme d'acquisition
Statut	En production
Nom développé	Plateforme de caractérisation avancée
URL	https://chevreul.univ-lille.fr/plateformes
Contact	maya.marinova@univ-lille.fr, fabrice.bray@univ-lille.fr
Localisation	Villeneuve-d'Ascq
Structure d'appartenance	IMEC
Tutelles	CNRS, Centrale Lille, Université de Lille

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Dernière version du 22 juin 2026 à 14:56

La plateforme de caractérisation avancée (PCA) rassemble des équipements et des expertises de pointe en ce qui concerne l’analyse structurale et chimique des molécules et de la matière condensée. Elle est ouverte à l’ensemble de la communauté académique et aux entreprises.

La plateforme est constituée de 10 pôles :

Résonance Magnétique Nucléaire (RMN)
Magnétisme et Résonance Magnétique Electronique (MRME)
Microscopie Electronique (PMEL)
Diffraction et Diffusion des Rayons X (D2RX)
Analyses de Surface
Spectroscopie Vibrationnelle
Spectrométrie par Torche à Plasma (ICP)
Chromatographie d’exclusion stérique
Spectroscopie ultrarapide
Spectrométrie de Masse (projection janvier 2026)

Elle est labellisée par l'Institut national de chimie (CNRS Chimie).

Domaines scientifiques :Sciences & Technologies

PE3 Physique de la matière condensée; PE4 Chimie physique et analytique

Thématique et/ou mots clés :

analyse
molécules
matériaux
surfaces

Type de données :données instrumentales, données expérimentales

Périmètre de communauté : ESR, public, privé, national, international

Usagers et bénéficiaires :Chercheur, enseignant-chercheur, doctorant, industriel

Conditions d'usage :

Conditions tarifaires : Payant

Certification/Label :

Conditions générales d'utilisation :

IMEC : PCA est en lien avec les services et structures

CNRS Chimie

Services proposés par la structure d'appartenance

Structure	Services proposés
IMEC	IMEC : PTICM IMEC : PCA

@@ Ligne 41 : / Ligne 41 : @@
 |Relation=CNRS Chimie
 }}
+<!-- Propriétés cachées -->
-<!-- Propriétés cachées -->
-[[A pour équipement::Spectroscopies ioniques ToF-SIMS et LEIS| ]]
-[[A pour équipement::Microscopes électroniques à balayage et à transmission| ]]
-[[A pour équipement::Diffractomètres RX| ]]
-[[A pour équipement::Spectromètres de masse, RMN, RPE, vibrationnel| ]]
-[[A pour équipement::Spectroscopies de photoémission XPS, UPS et NAP-XPS| ]]
 [[A pour technique::Imagerie par microscopie optique et électronique| ]]
 [[A pour technique::Plateformes multi-techniques| ]]
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 [[A pour technique::Magnétisme, calorimétrie et microfluidique| ]]
 [[A pour technique::Rayons X| ]]
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+ |A pour équipement=Chromatographie;
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 [[Catégorie:Plateformes labellisées CNRS Chimie]]