« CC3M » : différence entre les versions
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{{Service | {{Service | ||
|Description=Le '''CC3M''' a pour mission de servir d'appui à la recherche en fournissant des moyens de '''caractérisation des matériaux''' très performants ainsi que les compétences humaines pour mener à bien les études envisagées. | |Description=Le '''CC3M''' a pour mission de servir d'appui à la recherche en fournissant des moyens de '''caractérisation des matériaux''' très performants ainsi que les compétences humaines pour mener à bien les études envisagées.<br> | ||
Elle offre des outils avancés (MET, MEB, Microsonde, FIB) pour la caractérisation détaillée des matériaux, permettant une analyse précise à différentes échelles et une compréhension approfondie des structures et propriétés des échantillons. Elle permet d'analyser la structure, la microstructure et les compositions élémentaire et chimique des matériaux à des échelles allant du micromètre à l'atome. En fonction du type d'analyse demandé et de l'échantillon, celui-ci peut être préparé soit dans le service métallographie soit par MEB-FIB. | Elle offre des outils avancés (MET, MEB, Microsonde, FIB) pour la caractérisation détaillée des matériaux, permettant une analyse précise à différentes échelles et une compréhension approfondie des structures et propriétés des échantillons. Elle permet d'analyser la structure, la microstructure et les compositions élémentaire et chimique des matériaux à des échelles allant du micromètre à l'atome. En fonction du type d'analyse demandé et de l'échantillon, celui-ci peut être préparé soit dans le service métallographie soit par MEB-FIB. | ||
|Discipline=Sciences & Technologies | |Discipline=Sciences & Technologies | ||
Dernière version du 30 septembre 2025 à 16:03
| Type de service | Plateforme d'acquisition |
|---|---|
| Statut | En production |
| Nom développé | Centre de Compétences en Microscopies Electroniques et Microsondes |
| Autres noms | |
| URL | https://ijl.univ-lorraine.fr/centres-de-competences/centre-de-competences-microscopies-microsondes-et-metallographie-cc-3m |
| Contact | jaafar.ghanbaja@univ-lorraine.fr, valerie.frank@univ-lorraine.fr |
| Localisation | Nancy |
| Structure d'appartenance | IJL |
| Tutelles | CNRS, Université de Lorraine |
Cycle de vie des données
Ce service intervient au cours des stades du cycle de vie suivants :
Le CC3M a pour mission de servir d'appui à la recherche en fournissant des moyens de caractérisation des matériaux très performants ainsi que les compétences humaines pour mener à bien les études envisagées.
Elle offre des outils avancés (MET, MEB, Microsonde, FIB) pour la caractérisation détaillée des matériaux, permettant une analyse précise à différentes échelles et une compréhension approfondie des structures et propriétés des échantillons. Elle permet d'analyser la structure, la microstructure et les compositions élémentaire et chimique des matériaux à des échelles allant du micromètre à l'atome. En fonction du type d'analyse demandé et de l'échantillon, celui-ci peut être préparé soit dans le service métallographie soit par MEB-FIB.
Elle offre des outils avancés (MET, MEB, Microsonde, FIB) pour la caractérisation détaillée des matériaux, permettant une analyse précise à différentes échelles et une compréhension approfondie des structures et propriétés des échantillons. Elle permet d'analyser la structure, la microstructure et les compositions élémentaire et chimique des matériaux à des échelles allant du micromètre à l'atome. En fonction du type d'analyse demandé et de l'échantillon, celui-ci peut être préparé soit dans le service métallographie soit par MEB-FIB.
Domaines scientifiques :Sciences & Technologies
PE3 Physique de la matière condensée; PE4 Chimie physique et analytique; PE5 Chimie de synthèse et matériaux; PE11 Génie des matériaux
Thématique et/ou mots clés :
- microscopie électronique à balayage
- microscopie électronique en transmission
- microsonde de Castaing
- faisceau d’ions focalisé
- métallographie
Type de données :Données instrumentales, Données expérimentales
Communauté d'utilisateurs : Communauté de l'ESR Usagers et bénéficiaires :
Conditions d'usage :
Conditions tarifaires :
Certification/Label :INFRA+ (https://www.univ-lorraine.fr/lue/wp-content/uploads/sites/34/2025/09/carto star lue 20250901.pdf)
Conditions générales d'utilisation :
| Structure | Services proposés |
|---|---|
| IJL | CC3M DAUM |