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« CRISMAT : Imagerie » : différence entre les versions
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(Page créée avec « {{Infobox Service |Logo=CHRISMAT POLETES.jpg |NomService=CRISMAT : Imagerie |TypeService=Plateforme d'acquisition |StatutService=En production |UrlService=https://crismat.cnrs.fr/imagerie/ |ContactMel=https://crismat.cnrs.fr/imagerie/ |Localisation=Caen |StructureAppartenance=CRISMAT, IRMA, METSA |Tutelle=CNRS, ENSICAEN, Université de Caen Normandie |PhaseCycleVie=Collecte }} {{Coordonnées GPS |CoordonneeGeographique=49.21406, -0.36855 }} {{Service |Description... ») |
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|Description=Au '''CRISMAT''' ('''Laboratoire de Cristallographie et Sciences des Matériaux'''), les thématiques de recherche abordées au sein du plateau de microscopie concernent la recherche fondamentale et à vocation technologique à travers des contrats industriels sur '''les nouveaux matériaux''' en particulier sur '''la compréhension des relations structures/propriétés'''. | |Description=Au '''CRISMAT''' ('''Laboratoire de Cristallographie et Sciences des Matériaux'''), les thématiques de recherche abordées au sein du plateau de microscopie concernent la recherche fondamentale et à vocation technologique à travers des contrats industriels sur '''les nouveaux matériaux''' en particulier sur '''la compréhension des relations structures/propriétés'''. | ||
Les '''microscopes''' TEM ('''Microscopie Electronique en Transmission'''), '''MEB''' ('''Microscopie Electronique à Balayage''') et '''AFM''' ('''Microscopie à Force Atomique''') permettent de réaliser les études structurales par diffraction électronique et différents types d’imagerie multi échelle du macro (μm) au nano (nm). Il est également possible d’utiliser des outils de simulations pour l’interprétation des images observées (structures, défauts, contraintes…). Enfin une des spécificités du laboratoire est d’avoir une large gamme de portes échantillons permettant de faire de la microscopie électronique in-situ en température de la température de l’hélium liquide à plus de 1000°C. | Les '''microscopes''' '''TEM''' ('''Microscopie Electronique en Transmission'''), '''MEB''' ('''Microscopie Electronique à Balayage''') et '''AFM''' ('''Microscopie à Force Atomique''') permettent de réaliser '''les études structurales''' par diffraction électronique et différents types d’imagerie multi échelle du macro (μm) au nano (nm). Il est également possible d’utiliser des outils de simulations pour l’interprétation des images observées (structures, défauts, contraintes…). Enfin une des spécificités du laboratoire est d’avoir une large gamme de portes échantillons permettant de faire de la microscopie électronique in-situ en température de la température de l’hélium liquide à plus de 1000°C. | ||
La plateforme TEM (microscopie électronique en transmission) du CRISMAT participe au réseau METSA (Microscopie électronique et sonde atomique). | La plateforme TEM (microscopie électronique en transmission) du CRISMAT participe au réseau METSA (Microscopie électronique et sonde atomique). | ||