« MicroMat » : différence entre les versions

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{{Infobox Service
{{Infobox Service
|Logo=LEM3 Logo.png
|NomService=MicroMat
|NomService=MicroMat
|TypeService=Plateforme d'acquisition
|TypeService=Plateforme d'acquisition
|StatutService=En production
|StatutService=En production
|UrlService=https://pluginlabs.univ-lorraine.fr/fiche/plateforme-microstructures-des-materiaux/
|UrlService=https://pluginlabs.univ-lorraine.fr/fiche/plateforme-microstructures-des-materiaux/
|ContactMel=el-mostafa.daya@univ-lorraine.fr
|ContactMel=hamid.zahrouni@univ-lorraine.fr, olivier.perroud@univ-lorraine.fr
|Localisation=Metz
|Localisation=Metz
|StructureAppartenance=LEM3
|StructureAppartenance=LEM3
|Tutelle=CNRS, Université de Lorraine, Arts et Métiers
|Tutelle=CNRS, Université de Lorraine, Arts et Métiers
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|PhaseCycleVie=Collecte, Analyse, Stockage
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{{Coordonnées GPS
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{{Service
{{Service
|Description=La '''plateforme MicroMat''' a pour vocation de permettre '''la caractérisation de la microstructure des matériaux'''. Ces caractérisations sont essentielles pour mettre au point des matériaux plus performants, par exemple en vue d’alléger les structures. La complémentarité des équipements disponibles sur la plateforme favorise une caractérisation multi-échelle, allant de quelques centimètres à quelques nanomètres.
|Description=La '''plateforme MicroMat''' est une des trois plateformes technologiques du LEM3 et a pour vocation de permettre '''la caractérisation de la microstructure des matériaux'''.  
 


Elle dispose de quatre plateaux techniques permettant la caractérisation de la microstructure des matériaux notamment:
Elle dispose de quatre plateaux techniques permettant la caractérisation de la microstructure des matériaux notamment:
* Un plateau de microscopie (MEB et MET) qui dispose de compétence en analyse chimique (EDS) et d'orientation (EBSD et EBSD 3D couplé avec un FIB).
* Un '''plateau de microscopie''' (Microscopie électronique à balayage et Microscopie électronique en transmission) qui dispose de compétence en analyse chimique (EDS) et d'orientation (EBSD et EBSD 3D couplé avec un FIB).
* Un plateau de nanoindentation permet la caractérisation mécanique des matériaux en surface.
* Un '''plateau de nanoindentation''' qui  permet la caractérisation mécanique des matériaux en surface.
* Un plateau d'analyse Thermo-physique (DSC et Dilatométrie) ainsi qu'un four de traitements thermiques sous vide primaire.
* Un '''plateau d'analyse Thermo-physique''' (DSC et Dilatométrie) ainsi qu'un four de traitements thermiques sous vide primaire.
* Un plateau d'analyse non destructive en diffraction à rayons X et en tomographie à rayons X.
* Un '''plateau d'analyse non destructive''' en diffraction à rayons X et en tomographie à rayons X.


La complémentarité des équipements disponibles sur la plateforme favorise une caractérisation multi-échelle, allant de quelques centimètres à quelques nanomètres.


La plateforme est reconnue nationalement pour son expertise en '''analyse des données d’orientations cristallographiques'''. En couplant les analyses par tomographie à rayons X et microscopie double faisceau, elle a développé une compétence unique au sein de l’université en analyse 3D multi-échelle des matériaux. Grace à son personnel fortement impliqué dans la recherche, la plateforme développe aussi de nouvelles techniques d’analyse des microstructures (hardware et/ou software).
La plateforme est reconnue nationalement pour son expertise en '''analyse des données d’orientations cristallographiques'''. En couplant les '''analyses par tomographie à rayons X et microscopie double faisceau''', elle a développé une compétence unique au sein de l’université en '''analyse 3D multi-échelle des matériaux'''. La plateforme développe aussi de '''nouvelles techniques d’analyse des microstructures (hardware et/ou software).'''
|Discipline=Sciences & Technologies
|Discipline=Sciences & Technologies
|SousDisciplineSciences&Technologies=PE4 Chimie physique et analytique
|Thematique=Microscopie électronique, Indentation, Traitement thermique, Diffraction, Tomographie, FIB
|Thematique=Microscopie électronique, Indentation, Traitement thermique, Diffraction, Tomographie, FIB
|TypeDonnee=Données d’orientations cristallographiques, Logiciel
|TypeDonnee=Données d’orientations cristallographiques
|Communaute=Communauté du LEM3 ainsi que toute la communauté scientifique et industrielle
|Communaute=Communauté du LEM3 ainsi que toute la communauté scientifique et industrielle
|Beneficiaire=Chercheurs, étudiants
|Certification=StaR-LUE; https://pluginlabs.univ-lorraine.fr/fiche/plateforme-microstructures-des-materiaux/
|Certification=StaR-LUE; https://pluginlabs.univ-lorraine.fr/fiche/plateforme-microstructures-des-materiaux/
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