Rechercher par propriété

Cette page fournit une simple interface de navigation pour trouver des entités décrites par une propriété et une valeur nommée. D’autres interfaces de recherche disponibles comprennent la page recherche de propriété, et le constructeur de requêtes « ask ».

Liste de résultats

• DAUM  + (Microscope optique, électronique (MEB), ALD, PLD)
• PLASSMAT  + (Microscope optique, électronique (MEB-MET))
• ScanMAT  + (Microscope à balayage et à transmission)
• PLASSMAT  + (Microscope à effet tunnel)
• PLASSMAT  + (Microscope à force atomique)
• LCPME : SMI  + (Microscope électronique à balayage)
• PICMMO  + (Microscopes AFM / STM sous UHV et en VT)
• CRPP : PCMM  + (Microscopes AFM / STM sous UHV et en VT)
• IPGG : Plateforme technologique  + (Microscopes confocal et électronique à balayage)
• CBMN : VibrAFM  + (Microscopes couplés : AFM‑TIRF, AFM‑microscopie confocale)
• CRPP : PCMM  + (Microscopes optiques (lumière polarisée, confocale, fluorescence))
• LCPME : SMI  + (Microscopes à force atomique (AFM))
• LCPME : SMI  + (Microscopes électrochimiques à balayage)
• PAC Chimie Balard  + (Microscopes électroniques (MEB-MET))
• CASTAING  + (Microscopes électroniques en transmission (TEM, FEG-TEM, Cs-FEG-TEM, STEM, HAADF, EELS, EDS))
• CRISMAT - PAMEC  + (Microscopes électroniques en transmission)
• CRISMAT - PAMEC  + (Microscopes électroniques à balayage)
• CASTAING  + (Microscopes électroniques à balayage (FEG-SEM, EDS, EBSD, TKD, S-XES))
• CASTAING  + (Microscopes électroniques à balayage dual beam (FEG SEM/Ga-FIB, FEG SEM/plasma-FIB, EDS, EBSD, TOF-SIMS))
• CP2M  + (Microscopes électroniques à balayage et en transmission)
• PICMMO  + (Microscopes électroniques à balayage et à transmission)
• IMEC : PCA  + (Microscopes électroniques à balayage et à transmission)
• CRPP : PCMM  + (Microscopes électroniques à balayage et à transmission)
• IS2M  + (Microscopes électroniques à balayage et à transmission)
• PICMO  + (Microscopie confocale)

• PAC Chimie Balard  + (Microscopie de diffraction d’électrons rétrodiffusés)

• PRATIM  + (Microscopie optique (MO))
• ICMPE : MIC  + (Microscopie optique (MO) et électroniques (MEB – MET - EPMA))
• IS2M  + (Microscopie optique et à Force Atomique)
• FCMat : MEB et EDS  + (Microscopie électronique à balayage à effet de champ (SEM-FEG))
• PICMO  + (Microscopie électronique à transmission (MET) et à balayage (MEB))
• PRATIM  + (Microscopies électroniques (MEB – MET))
• MEB-Cro  + (Microscopies électroniques (MEB))
• FCMat : MET  + (Microscopies électroniques (MET))
• CC3M  + (Microsonde de Castaing pour l'analyse élémentaire quantitative et MEB-FIB FIB pour la préparation d'échantillons)
• CASTAING  + (Microsondes électroniques / de Castaing (EPMA, FEG-EPMA))
• IPREM : I3  + (Mobilité ionique)
• IPREM : ECOMES  + (Mobilité ionique)
• PhotoNS  + (Montages pour photoactivation)
• MINaMec  + (Nanoindenteur)
• IPGG : Plateforme technologique  + (Photolithographie et dépôts de surface pour la micro fluidique)
• CBMN : VibrAFM  + (Plasmon Waveguide Resonance, thermophorèse (MST), ITC, spectroélectrochimie)
• IECB : Plateformes  + (Plateforme de synthèse peptidique et synthèse de biomolécules)
• IECB : Plateformes  + (Plateforme d’étude d’interaction : BLI (biolayer interferometry), SPR (Surface Plasmon Resonance))
• IS2M  + (RMN du solide)
• CRPP : PCMM  + (Rayons X)
• ScanMAT  + (Rhéologie)
• SynBio3  + (Réacteurs)
• CHEM‑Symbiose  + (Réacteurs de synthèse)
• ICMPE : Spectroscopies  + (Réflectance Totale Atténuée)
• PLASSMAT  + (Résonance paramagnétique électronique)