Rechercher par propriété
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Liste de résultats
- PhotoNS + (Dichroïsme circulaire, d’absorption et d’émission, de fluorescence)
- ICMPE : MIC + (Diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD))
- FCMat : DRX + (Diffractomètres D8)
- CC X-Gamma + (Diffractomètres RX)
- IMEC : PCA + (Diffractomètres RX)
- ScanMAT + (Diffractomètres RX, XPS photoémission)
- PICMMO + (Diffractomètres RX, photoémission X)
- IECB : Plateformes + (Diffractomètres X)
- IS2M + (Diffractomètres de Rayons X)
- CRISMAT - PAMEC + (EDX, EELS)
- MO2VING + (Echographe à haute résolution)
- IS2M + (Essais mécaniques, thermiques et d’absorption)
- DAUM + (Etude des propriétés physiques des matériaux (magnétométrie Kerr in situ, cathodoluminescence))
- CHEM‑Symbiose + (Evaporateurs)
- Fédération de chimie Le Bel : Plateforme + (Fluorimètre à large bande)
- CRMN de Lyon + (Gyrotrons)
- SynBioN + (HPLC analytiques et préparatives. Détection UV / MS, colonnes chirales analytiques et préparatives)
- PICMO + (Histologie (cryostat, microtome, vibratome))
- CLIO + (Laser infrarouge CLIO (10-45 MeV) et lasers accordables dans l’infrarouge)
- IMEC : PTICM + (Lasers et Spectroscopes d’absorption transitoires électroniques et vibrationnelles, de photoluminescence et de diffusion Raman transitoires)
- MACLE-CVL + (MEB Microsonde)
- MACLE-CVL + (MEB couplé à un faisceau d'ions focalisés)
- CC3M + (MEB haute résolution pour l'imagerie, l'analyse élémentaire semi-quantitative et l'EBSD)
- MACLE-CVL + (MET)
- CC3M + (MET pour l'imagerie, l'analyse élémentaire semi-quantitative, l'analyse chimique, la diffraction des électrons)
- PLASSMAT + (Magnétomètre)
- MagCryo + (Magnétomètres)
- PICMMO + (Magnétomètres)
- MINaMec + (Micro Visio Scratch)
- Fédération de chimie Le Bel : Plateforme + (Microanalyseur CHN)
- ScanMAT + (Microscope AFM / STM sous UHV et en VT)
- VISIO + (Microscope RAMAN)
- MO2VING + (Microscope confocal et vidéo)
- MO2VING + (Microscope de fluorescence)
- LCPME : SMI + (Microscope infrarouge)
- PRATIM + (Microscope inversé confocal)
- DAUM + (Microscope optique, électronique (MEB), ALD, PLD)
- PLASSMAT + (Microscope optique, électronique (MEB-MET))
- ScanMAT + (Microscope à balayage et à transmission)
- PLASSMAT + (Microscope à effet tunnel)
- PLASSMAT + (Microscope à force atomique)
- LCPME : SMI + (Microscope électronique à balayage)
- PICMMO + (Microscopes AFM / STM sous UHV et en VT)
- CRPP : PCMM + (Microscopes AFM / STM sous UHV et en VT)
- IPGG : Plateforme technologique + (Microscopes confocal et électronique à balayage)
- CBMN : VibrAFM + (Microscopes couplés : AFM‑TIRF, AFM‑microscopie confocale)
- CRPP : PCMM + (Microscopes optiques (lumière polarisée, confocale, fluorescence))
- LCPME : SMI + (Microscopes à force atomique (AFM))
- LCPME : SMI + (Microscopes électrochimiques à balayage)
- PAC Chimie Balard + (Microscopes électroniques (MEB-MET))