]> 2026-04-28T00:59:49+02:00 CC X-Gamma 0 fr Chercheur 48.67264,6.17125 Le '''CC X-Gamma''' est spécialisé dans la '''caractérisation''' des '''matériaux''' en utilisant les '''rayonnements X''' et '''Gamma'''. Il permet des mesures par diffusion, diffraction, tomographie et fluorescence X et par spectroscopie Mössbauer. Ces mesures donnent par exemple accès à la résolution structurale sur monocristal, la caractérisation de la microstructure par tomographie RX et la caractérisation des couches minces par étude de la relaxation des contraintes en fonction de la température. Nancy p.boulet@univ-lorraine.fr CC X-Gamma Centre de Compétences Diffraction, Diffusion, Fluorescence et Tomographie X, Spectroscopie Mössbauer, Centre de Compétences X-Gamma Centre de Compétences X-Gamma Centre de Compétences Diffraction, Diffusion, Fluorescence et Tomographie X, Spectroscopie Mössbauer esr national En production mesure de diffraction diffusion fluorescence spectroscopie Mössbauer tomographie données expérimentales, données instrumentales true false 2026-04-10T12:25:33Z 2461141.0177431 2026-04-10T12:29:07Z 2461141.0202199 CC X-Gamma 0 INFRA+ CC X-Gamma#INFRA+;https://www.univ-lorraine.fr/lue/wp-content/uploads/sites/34/2025/09/carto star lue 20250901.pdf 0 0 leaflet 1 [[:CC X-Gamma]] CC X-Gamma# QUERYa7111166352833b207f08258e4219c0e 0 1 broadtable 2 [[-A pour structure::CC X-Gamma]] CC X-Gamma# QUERY5fd6970814af44b3853a8f5879d78817