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(Page créée avec « {{Infobox Service |NomService=MicroMat |TypeService=Plateforme d'acquisition |StatutService=En production |UrlService=https://pluginlabs.univ-lorraine.fr/fiche/plateforme-microstructures-des-materiaux/ |ContactMel=el-mostafa.daya@univ-lorraine.fr |Localisation=Metz |StructureAppartenance=LEM3 |Tutelle=CNRS, Université de Lorraine, Arts et Métiers |PhaseCycleVie=Analyse }} {{Coordonnées GPS |CoordonneeGeographique=49.09376, 6.22534 }} {{Service |Description=La... ») |
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{{Infobox Service | {{Infobox Service | ||
|Logo=LEM3 Logo.png | |||
|NomService=MicroMat | |NomService=MicroMat | ||
|TypeService=Plateforme d'acquisition | |TypeService=Plateforme d'acquisition | ||
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{{Coordonnées GPS | {{Coordonnées GPS | ||
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}} | }} | ||
{{Service | {{Service | ||
|Description=La '''plateforme MicroMat''' a pour vocation de permettre '''la caractérisation de la microstructure des matériaux'''. | |Description=La '''plateforme MicroMat''' est une des trois plateformes technologiques du LEM3 et a pour vocation de permettre '''la caractérisation de la microstructure des matériaux'''. | ||
Elle dispose de quatre plateaux techniques permettant la caractérisation de la microstructure des matériaux notamment: | Elle dispose de quatre plateaux techniques permettant la caractérisation de la microstructure des matériaux notamment: | ||
* Un plateau de microscopie ( | * Un '''plateau de microscopie''' (Microscopie électronique à balayage et Microscopie électronique en transmission) qui dispose de compétence en analyse chimique (EDS) et d'orientation (EBSD et EBSD 3D couplé avec un FIB). | ||
* Un plateau de nanoindentation permet la caractérisation mécanique des matériaux en surface. | * Un '''plateau de nanoindentation''' qui permet la caractérisation mécanique des matériaux en surface. | ||
* Un plateau d'analyse Thermo-physique (DSC et Dilatométrie) ainsi qu'un four de traitements thermiques sous vide primaire. | * Un '''plateau d'analyse Thermo-physique''' (DSC et Dilatométrie) ainsi qu'un four de traitements thermiques sous vide primaire. | ||
* Un plateau d'analyse non destructive en diffraction à rayons X et en tomographie à rayons X. | * Un '''plateau d'analyse non destructive''' en diffraction à rayons X et en tomographie à rayons X. | ||
La complémentarité des équipements disponibles sur la plateforme favorise une caractérisation multi-échelle, allant de quelques centimètres à quelques nanomètres. | |||
La plateforme est reconnue nationalement pour son expertise en '''analyse des données d’orientations cristallographiques'''. En couplant les analyses par tomographie à rayons X et microscopie double faisceau, elle a développé une compétence unique au sein de l’université en analyse 3D multi-échelle des matériaux. | La plateforme est reconnue nationalement pour son expertise en '''analyse des données d’orientations cristallographiques'''. En couplant les '''analyses par tomographie à rayons X et microscopie double faisceau''', elle a développé une compétence unique au sein de l’université en '''analyse 3D multi-échelle des matériaux'''. La plateforme développe aussi de '''nouvelles techniques d’analyse des microstructures (hardware et/ou software).''' | ||
|Discipline=Sciences & Technologies | |Discipline=Sciences & Technologies | ||
|SousDisciplineSciences&Technologies=PE4 Chimie physique et analytique | |||
|Thematique=Microscopie électronique, Indentation, Traitement thermique, Diffraction, Tomographie, FIB | |Thematique=Microscopie électronique, Indentation, Traitement thermique, Diffraction, Tomographie, FIB | ||
|TypeDonnee=Données d’orientations cristallographiques | |TypeDonnee=Données d’orientations cristallographiques | ||
|Communaute=Communauté du LEM3 ainsi que toute la communauté scientifique et industrielle | |Communaute=Communauté du LEM3 ainsi que toute la communauté scientifique et industrielle | ||
|Certification=StaR-LUE; https://pluginlabs.univ-lorraine.fr/fiche/plateforme-microstructures-des-materiaux/ | |Certification=StaR-LUE; https://pluginlabs.univ-lorraine.fr/fiche/plateforme-microstructures-des-materiaux/ | ||
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